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拉曼光谱仪 / 

WITec alpha300 A 原子力显微镜

产品属性

品牌:WITec

型号:alpha300 A

产地:德国

价格:面议

仪器介绍

WITec 原子力显微镜集成了科研级光学显微镜,提供高级光学观测、简便的悬臂梁准直和高分辨样品研究。


通过不同照明与探测技术的光学观测(例如明场,暗场,偏振,荧光等),用户可以轻易地选定感兴趣的区域来进行 AFM 测试。通过简单地旋转物镜转轮,用户可以在传统显微镜与 AFM 模式间快速切换。


WITec 的 AFM 物镜可直接观测样品与悬臂梁针尖, 实现直观的精准探针定位。alpha300A 系统配备极度线性且精确的电容反馈控制扫描台 (TrueScan™ 技术),实现整个扫描范围上超高的精度控制。

产品特点

悬臂梁与样品的同时观察有助于便捷的确定测试位置

WITec 的AFM物镜允许从上方同时清楚的观测到样和悬臂梁,便于AFM的探针准直与微小样品结构的定位。

(A)同时观测探针悬臂梁与样品

 (B)光学图像与AFM图像的叠加(AFM图像:AC模式,扫描范围:3*3μm2

 (C)B 中AFM三维图像

技术参数

AFM模式

接触模式:

品扫描时域探针直接接触,通过悬臂梁的倾斜及角度来记录表面形貌。

AC(TappingTM 轻敲模式

又称间歇接触式。悬臂梁以其共振频率振动,不与样品接触,该模式特别适用于易损样品。当探针接近样品表面,样品与探针的相互作用对悬臂梁施加力从而改变其振动频率。

抬高模式(Lift ModeTM):

抬高模式可与接触或者AC模式结合使用。样品先通过其他的成像模式被扫描一次,然后使用抬高模式,在之前记录的样品轮廓基础上,将探针与样品保持一个恒定的距离在扫描一次。

数字脉冲力模式(DPFM)

磁力显微镜(MFM)

测量样品上磁场的一种非接触模式

静电力显微镜

测量静电力显微镜

记录并描绘间歇(轻敲)

模式中的相位偏移型号

纳米操纵/压抑

开尔文探针显微镜

表面势测量

横向卢显微镜(LFM)

揭示表面摩擦特性的一种接触模式

化学力显微镜

测量范德华力等化学相互作用的接触或间歇模式

其他模式可选