网站导航
微信

English服务热线:400-668-1210

首页自主产品光学膜厚仪
光学膜厚仪 / 

TF200光学膜厚仪

仪器简介
TF200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm,可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜,还可...
产品属性
  • 品牌:Betop
  • 型号:TF200
  • 产地:中国
  • 价格:面议